Magnum メモリ テスト システム

メモリ

• NOR フラッシュ
• NAND フラッシュ
• SRAM
• DRAM
• MEM

埋め込みメモリ

混合ロジック

単一のスケーラブルなプラットフォーム

• 少チャネルのエンジニアリング ソリューションから多チャネルの生産ソリューションまで、優れたスループットと高い並行テスト効率を維持したスケーリングを実現します。
• 1つのプラットフォームで、メモリ、埋め込みメモリ、ロジック テストなど、さまざまなメモリとロジック デバイスをテストします

マルチサイト アーキテクチャ

• 高い並行度のテスター アーキテクチャにより、数百個（最大 640 個）のデバイスを並行テストするタスクを自動化できます。

NOR/NAND フラッシュ デバイスの高並行度テスト

• 最大 64 本のデバイス ピンを備えた NOR フラッシュ デバイスを最大 80 個および最大 16 本のデバイス ピンを備えた NAND フラッシュ デバイスを最大 320 台個テストできます。
• 最大 16 本のデバイス ピンを備えた NOR フラッシュ デバイスを最大 320 個または最大 8 本の DUT ピンを備えたフラッシュ デバイスを 640 台個テストできます。

すべてI/O チャネル

• テスターのリソースを最大限に利用し、最大限の並行処理を実行します。
• IOチャンネルをメモリーやロジックデバイスに割り当てる際に最大限の柔軟性を提供します。この柔軟性は各I/Oチャンネルが特定の機能専用でないために実現できます。

DUT ごとの ECR メモリ

• 各 DUT のフェール情報は、その DUT 専用のメモリ空間にキャプチャーされ、他の DUT とは共有されません。
• 64本のI/Oピンごとのフェールは独立したメモリー空間にマップされ、高い並行度のエラー キャプチャー性能を発揮します。

Magnum EV

• 自己完結型の低電力エンジニアリング テスト システムです。
• テスト プログラムの開発とデバッグを必要とするお客様のオフィスでの使用に最適です。
• 最大で 256 のデジタル I/O ピンを備えています。
• Magnum 生産システムとコンパチブルです。
• AC 電源規格 110V（欧州では AC 220V）で動作します。

Magnum PV

• エンジニアリングから生産までのファイナルテストとウエハー ソートの用途向けです。
• 128 ～ 640 ピンの構成が可能です。
• サードパーティ製マニピュレータへの組み込みが容易です。
• 単一シャーシのマニピュレータが使用可能です。

Magnum SV

• ハイミックスな生産ソリューションです。
• 並行テスト向けに最大 1,280 のデジタル ピンを備えます。
• ファイナルテストおよびウエハー ソートの生産に対応します。
• 業界標準のハンドラーおよびウエハー プロバーがヒンジやカラムのマニピュレータと使用可能です。

Magnum SSV WS

• ウエハー ソート用途向けです。
• 多数のサードパーティ製のヒンジとカラムのマニピュレータに容易に組み込むことができます。
• インターフェイスがラッチされているプロバーと通信するマニピュレータ モーター ロックアウト ソリューションが用意されています。

Magnum GV FT

• 最終テスト用途向けです。
• 超大容量デバイス ハンドラーへの直接ドッキングを実現するためにテラダインのバーティカル プレーン マニピュレータを組み込んでいます。
• 単一キャビティとデュアル キャビティのハンドラー構成
• システムに取り付けられたドッキング ハードウェア

Magnum GV WS

• ウエハー ソート用途向けです。
• サードパーティ製のヒンジとカラムのマニピュレータに容易に組み込むことができます。
• インターフェイスをラッチするプロバーと通信を行いマニピュレータ モーター ロックアウト ソリューションが用意されています。

MPAC

• アナログのソースとキャプチャーのオプションです。
• ソース、キャプチャー、Vref の 24 チャネル構成または 48 チャネル構成が用意されています。
• さまざまなテスト用途向けの電圧基準を備え、埋め込みコンバーターが用意されています。
• 任意のインスツルメントチャネルで使用できるパラメトリック測定ユニット（PMU）が組み込まれています。

DPS

• ピンが少ないデバイスで高並行度テストを実施するためのオプションです。
• リソースの利用率とデバイスの並行処理を最大化します。
• 32 チャネル構成と 64 チャネル構成が用意されています。

VRC

• 電圧基準チャネルのオプション
• 32 チャネル構成と 64 チャネル構成が用意されています。
• アプリケーションプログラミングインターフェイス（API）を使用してプログラム可能です。

MPAC24/DPS32

• 24 の MPAC チャネルと 32 の DPS チャネルを組み合わせたオプション

VRC32/DPS32

• 32 の VRC チャネルと 32 の DPS チャネルを組み合わせたオプション

TCALDX

• 高スループットで低コストのデジタルチャネルキャリブレーションのオプション
• ハードウェアとソフトウェアによるソリューションで、「リレーツリー」方式キャリブレーション手法よりも迅速にシステムをキャリブレーションします。

トレーサビリティ

• NIST 認定測定器によりトレーサビリティに対応しています。（Magnum システムは、NIST に直接は適合していません）
• AC 測定では、TCALDX ポートによって、Magnum の AC サブシステムにサイトアセンブリあたり 1 つ搭載されている内部水晶にアクセスできます。デジタルカウンターケーブルを通じてタイミングパスが NIST 認定の Stanford Research SR620 カウンター （または同等品）に導かれ、AC トレーサビリティの手段を実現します。
• DC 測定では、TCALDX ポートによって、Magnum の DC サブシステムに搭載された基準電圧にアクセスできます。基準電圧はサイトアセンブリ上の各 DP 基板から供給され、デジタルマルチメーターケーブルを通じて NIST 認定の Agilent 3458A マルチメーター （または同等品）に導かれて、DC トレーサビリティの手段を実現します。

インターフェイスソリューション

• DIB、PIB、ロードカード、キャリブレーション ボード、DUT ボード スティフナーキット、プローブ カードスティフナーキット。ファイナルテスト インターフェイス、ウエハー プローブ インターフェイス、ドッキング ソリューション、およびテスト セルインテグレーション。

Magnum OS は、DUT ベースのマルチサイトアーキテクチャです。Magnum のソフトウェアは、真のデバイス指向の並行テストプログラミング環境をテストエンジニアに提供するように設計されています。テストエンジニアが 1 つのデバイス向けのテストプログラムを作成すると、システムのハードウェアにより、そのテストのクローンが複数のサイトに自動的に作成されます。Magnum EV または Magnum PV で開発したテストプログラムを生産バージョンの Magnum で使用すると、最大限の並行テストを実行できます。すべてのソフトウェアツールはサイトを認識できるので、どの DUT サイトでも、サイトを 1 つのみとしたテスターを使用している感覚でデバイスの性能を調査できます。