UltraSerial60G の概要

ATE業界初の60Gbps 高速デバイステスト用ソリューション

人工知能 (AI)で使用されるデバイス、ネットワーク・プロセッサー・デバイス、そして5G（第5世代移動通信システム）基地局デバイスは、すべて世界中で絶え間なく情報伝送に使用されるデータ速度が上昇し続けていることを示す実例です。32Gbps および 56Gbps という速度で動作する高速データ・インターフェイスが、このようなあらゆるアプリケーションの進歩を可能にしています。

UltraFLEX テストシステム用にテラダインが新たに提供するUltraSerial60G テストインスツルメントは、デバイスの特性評価や量産テストにおいて60Gbps高速デバイスの完全なテストを実現する初のATEソリューションです。

• UltraSerial60G には最大32GbpsのNRZおよび60GbpsのPAM4波形を生成そして測定できる 32 個の差動ドライバーと 32 個の差動レシーバーが装備されています。
• 各差動レシーバーには、DIB (Device Interface Board) 上に回路を追加することなく、ベンチトップのテスト品質を確保できる帯域幅25GHz の独立したデジタイザが搭載されています。
• UltraSerial60Gインスツルメントでは、デバイスのシリアル・インターフェイスの機能に加え、RFを含むその他すべてのデバイスの機能を単一工程でテストすることが可能です。
• RFブロックへ高速シリアル・インターフェイスを介してアクセスすることによりRF to Bitsテストを実現します。
• UltraSerial60Gは、ATE業界をリードするIG-XLソフトウェアを使用してプログラミングされ、シリアル・インターフェイス向けテストの迅速な開発を実現しています。

32Gbpsと56Gbps (PAM4)での性能結果 (例)