IP750 テストシステム

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イメージ検出デバイス

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高いスループット

• 高いピクセル解像度デバイスの画像処理を可能にする高性能 CPU を搭載しています。
• キャプチャーインスツルメントあたり 40 Gbps の高速同時データ転送が可能です。
• 16 スロットのテストヘッドで最大 96 サイトの同時測定が可能です。
• 業界最高の同時測定数を、最高水準の同時測定効率処理で、低コストのテストを実現します。

最大 128 メガピクセルに及ぶ広範な対象デバイス

• 広範なデバイスをテストできる高い汎用性を備えています。ICMD を使用した MIPI や LVDS のキャプチャーが可能です。
• ICMDは、市場で唯一、カスタム LVDS プロトコルに対応したインスツルメントソリューションです。
• SoC 型イメージセンサー用デジタルインスツルメントにより、強力な SoC テスト機能を発揮します。

単一プラットフォーム

• テラダインの J750 テストプラットフォームを母体にしています。
• IP750 シリーズは、現場で IP750Ex/Ex-HD または J750Ex/Ex-HD にアップグレード可能です。これにより、変化の激しい市場環境でも、貴重な資産を有効活用できます。

テストプログラムの互換性

• わずかな変換操作だけで、IP750EP/EMP のテストプログラムを IP750Ex/Ex-HD 上で実行できます。

IG-XL ソフトウェア

• Windows® で Excel を使用して作成されていることから、使いやすいインターフェイスで短時間にプログラムを開発できます。
• 単一サイトからマルチサイトにテストプログラムを容易にアップグレードできるため、量産開始に際してテストエンジニアの作業負荷を大幅に軽減します。
• IP750、J750、および FLEX ファミリーはソフトウェア環境が共通であり、テスターごとにテストエンジニアにソフトウェアプログラミングのトレーニングを実施する必要がありません。

IP750Ex-HD

• 96 のサイトでのウエハーテストが可能
• ICMD 1.5Gbps MIPI D-Phy イメージキャプチャーインスツルメント
• ICMD によるカスタム LVDS キャプチャー機能
• HSD800 400MHz デジタルインスツルメント
• HDDPS 24/48 チャネル DC ソース
• 40 Gbps でのイメージデータ転送
• J750Ex-HD インスツルメントが使用可能
• 150mm x 160mm のイルミネーターをサポート

VI リソース

• APMU
• HDAPMU
• HDVIS

コンバーターのテスト

• HDCTO

高い評価を受けているテラダインの IG-XL ソフトウェアは、テスト プログラム開発を変革します。高機能ながらも使いやすいそのグラフィカル環境により、動作が万全なテスト プログラムを短期間で開発でき、プログラムの開発とデバッグに要する時間の短縮が望めます。マルチサイトの複雑さに対処することを目的とした IG-XL では、シングルサイト テスト プログラムを自動的にマルチサイトに変換できるので、開発期間の短縮とテストコストの削減を実現します。IG-XL の使用により、テスト エンジニアは、テスターのコード作成に時間を取られることなく、実際の評価／解析業務に集中できます。