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セミコンダクタテスト 無線(ワイヤレス)テスト ストレージテスト
Teradyne_Products_Semiconductor.jpgテラダインのテストソリューションは、半導体市場の要求に答えるべく設計され、高いスループットとテストコスト削減を実現いたします。また、コンピューティング、コミュニケーション、コンシューマー、自動車、本人確認、ネットワーキングの市場にかなうロジック、RF、アナログ、パワー、ミックスト シグナル、およびメモリデバイスのための革新的なテストソリューションをご提供します。

セミコンダクタテスト製品の詳細
無線技術の十分なテストは不可欠ですが、そのようなテストによって生産の遅延やコストの上昇があることはあってはならないことです。テラダインの無線テストオプションは、高いスループットとコスト効果に優れたテストを大量生産環境で可能にします。当社は、携帯電話のすべての規格とあらゆる無線のニーズを対象として広く普及している接続規格の大半に対応しています。

無線(ワイヤレス)テスト製品の詳細
テラダインのストレージテストは、2.5インチおよび3.5インチのハードディスクドライブの大量生産テストをリードし、ハードディスクドライブ(HDD)製造メーカーはそれをご使用いただくことにより、現状の工場面積の中で、生産量を迅速かつ効果的に高めることが可能です。当社のソリューションは、今日及び次世代のストレージデバイスの仕様に合わせて設計され、ストレージデバイス製造メーカーのお客様の試験設備全体の効率向上、商品化期間の短縮、および所有コストの低減に寄与します。

ストレージテスト製品の詳細